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鑄件的用途廣泛，作為硅溶膠工藝的鑄造廠，擅長(zhǎng)一些結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜、外觀光潔度高且形位公差要求高的鑄件。有些客戶對(duì)鑄件的機(jī)械性能非常重視，因此鑄件不能有疏松、縮孔和裂紋等內(nèi)部缺陷，我們常用的無(wú)損探傷檢測(cè)方法一般有四種。1.磁粉探傷檢測(cè)磁粉檢測(cè)適合于檢測(cè)表面缺陷…
1、超聲檢測(cè)（UT）：超聲波探傷基礎(chǔ)原理：是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法，也是五種常規(guī)無(wú)損探傷檢測(cè)方法最普遍的一種。2、射線檢測(cè)（RT）：眾所周知，X射線和γ射線具有很強(qiáng)的穿透能力，…
無(wú)損檢測(cè)就是指在檢查機(jī)械材料內(nèi)部不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能,不傷害被檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部組織的前提下，利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異?；蛉毕荽嬖谝鸬臒?、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化，以物理或化學(xué)方法為手段，借助現(xiàn)代化的技術(shù)和設(shè)備器材，對(duì)試件內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)、狀態(tài)及缺…
無(wú)損檢測(cè)中使用的常規(guī)超聲探頭就晶片數(shù)量而言通常有兩種：一種是只包含一個(gè)晶片，這個(gè)晶片既用于生成又用于接收高頻聲波；另一種包含一對(duì)晶片，一個(gè)晶片用于發(fā)射聲波，另一個(gè)用于接收聲波。而相控陣探頭一般是一個(gè)換能器組件，這個(gè)組件包含16到256個(gè)數(shù)量不等的小型單個(gè)晶…
超聲相控陣成像技術(shù)是通過(guò)控制換能器陣列中各陣元的激勵(lì)(或接收)脈沖的時(shí)間延遲，改變由各陣元發(fā)射(或接收)聲波到達(dá)(或來(lái)自)物體內(nèi)某點(diǎn)時(shí)的相位關(guān)系，實(shí)現(xiàn)聚焦點(diǎn)和聲束方位的變化，完成聲成像的技術(shù)。由于相控陣陣元的延遲時(shí)間可動(dòng)態(tài)改變，所以使用超聲相控陣探頭探傷主要…
相控陣超聲檢測(cè)的優(yōu)缺點(diǎn)都有哪些?相控陣超聲檢測(cè)是一種先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，它利用多個(gè)超聲發(fā)射器和接收器來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物內(nèi)部缺陷的全面掃描。相控陣超聲檢測(cè)具有許多優(yōu)點(diǎn)，例如高分辨率、快速成像和多角度檢測(cè)等，但同時(shí)也存在一些缺點(diǎn)，比如成本高和復(fù)雜操作等。首先，…
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